服務(wù)支持
機(jī)械設(shè)計(jì)能力
電子設(shè)計(jì)能力
軟件開發(fā)能力
CCD應(yīng)用
檢測(cè)缺陷類型： 主要有黑白點(diǎn)、黑白屏、屏暗、水紋、漏光、點(diǎn)線類問(wèn)題等。
功能特點(diǎn)：對(duì)點(diǎn)缺陷可以穩(wěn)定檢測(cè)到0.025um以上的1/3級(jí)子像素缺陷；對(duì)Mura缺陷可以穩(wěn)定檢測(cè)0.08mm*0.08mm、灰度差在5％以上的缺陷；采用高分辨率工業(yè)相機(jī)，穩(wěn)定檢驗(yàn)最小缺陷尺寸20μm，最高可檢測(cè)8μm的缺陷。
部分檢測(cè)缺陷種類
